Тестовые зажимы для интегральных схем (ИС) — это специальные разъемы, используемые в основном для временного крепления к контактам ИС во время процедур тестирования и устранения неполадок. Эти зажимы обеспечивают надежное соединение без необходимости постоянной пайки микросхемы к печатной плате, что позволяет техническим специалистам и любителям анализировать и работать с электронными компонентами неразрушающим способом. Основная функция тестовых зажимов микросхем — облегчить доступ к крошечным ножкам микросхем, обеспечивая проводящий путь к измерительным приборам, таким как мультиметры и осциллографы, без риска повреждения или нарушения работы чувствительных схем.
Основное использование тестовых клипов микросхем включает диагностические проверки, отслеживание сигналов и проверку функциональности при разработке и ремонте. Созданные для точности и простоты использования, они обычно оснащены подпружиненными клещами для надежного захвата и могут поставляться с различными переходными концами, подходящими для широкого спектра типов и размеров микросхем. Такие характеристики, как нескользящая ручка, защитная изоляция и способность надежно фиксироваться на штырях, не вызывая короткого замыкания, имеют жизненно важное значение для эффективного тестирования. Некоторые известные производители тестовых зажимов - IC - Pomona Electronics, 3M и Tektronix.