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テストプローブのヒント

テスト プローブ チップは、電子テスト機器を被試験デバイス (DUT) に接続するために設計された精密ツールです。これらのチップはプローブの不可欠な部分であり、テスト対象の回路からオシロスコープやマルチメーターなどの測定器に信号を送信するために使用されます。テスト プローブ チップの主な機能は、最小または最も高密度に実装された回路であっても、DUT との安定した信頼性の高い接触を確保することです。その鋭さと導電性により、電子部品や PCB (プリント回路基板) 上の特定のポイントを利用して、故障の診断、パラメータの測定、または回路の動作の検証を行うことができます。

テスト プローブ チップの重要な特徴は次のとおりです。テスト対象のコンポーネントやボードに損傷を与えることなく精度を提供できる能力。ファインピッチプロービング、長距離テスト、高周波測定など、さまざまな用途に合わせてさまざまな形状とサイズが用意されています。その設計には、一貫した圧力と強固な接続を維持するためのバネ仕掛けの機構が含まれることがよくあります。電気通信、航空宇宙、家庭用電化製品、自動車などのさまざまな業界が、開発テスト、品質保証、修理作業にこれらのツールを利用しています。テスト プローブ チップの有名なメーカーには、Tektronix、Keysight Technologies、Fluke Corporation などがあります。

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PROBE EXTENDED LENGTH BLACK
SUREGRIP TERMINAL BLOCK PROBE
TIP TRIPLE-POINT GOLD .04" DMM
SPG TIP MINIPROBE - 4MM JACK, RE
SOCKET PROBE SET FLEXIBLE
2.54MM CENTER TWO PART PROBE
COMPACT PROBE BODIES 2MM TIP B/R
TIP STANDARD BRASS .06" DMM
HOOK CLIPS SET OF 2 RED AND GRAY
PROBE NEEDLE TIP RED
FUSED MODULAR PROBE 0.5A/1000V W
PROBE SPRUNG HOOK PAIR - B/R
NEEDLE BACK PROBE ADAPTER BLACK
COMPACT PROBE BODY 2MM TIP RED;
2.54MM MIN CENTER SPRING PROBE
SMD TEST PROBE SPRING MNTDED TIP
TIP SHARP GOLD PLUNGER .06" DMM
REPLACE ACCESS KIT INS PROBE GRY
COMPACT PROBE BODIES 4MM CONTACT
TEST PROBE LANTERN TIP
SPRING PROBE SLEEVE
 
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